1. 粒度分析曲线

为了便于根据筛析结果研究问题，常将表2-2-2中的资料绘成曲线，这种按筛析结果绘制出的曲线，叫粒度分析曲线。它直观地反映出被筛析物料中的任何一个粒级的产率与粒级之间的关系。根据用途的不同，粒度分析曲线有各种不同的绘制方法，一般是以产率为纵坐标，粒度为横坐标。根据各个级别的产率绘制的曲线，称为部分靛度分析曲线；根据累积产串绘制的曲线，称为累积粒度分析曲线。实际上最常用的是累积粒度分析曲线。通常有3种绘图方法，即算术坐标法、半对数坐标法和全对数坐标法。

2.算术坐标法

算术坐标法是把粒度分析曲线绘制在普通的直角坐标系上，图2-2-1是根据表2-2-2的资料绘制的粒度分析曲线。

如纵坐标表示大于某一筛孔尺寸的产率，则粒度特性是正累积曲线；如纵坐标表示小于某一筛孔尺寸的产率，则粒度特性为负累积曲线o这两条曲线是互相对称的，如果绘在一张图纸上，它们相互交于物料产率为50％的点上。在正累积粒度分析曲线上，由于大于零毫米级别的累积产率等于100％，所以曲线与纵坐标相交于100％。在负累积粒度分析曲线上由于小于零毫米级别的累积产率等于零，所以曲线与纵坐标交于零。

这种累积粒度分析曲线在生产考查和流程计算中得到广泛的应用。用此曲线：

(1)可以求出任意粒级的产率。即某一粒级(—d1＋d2)产率为直径d1和d2的纵坐标的差值。

(2)求物料中最大块的直径。我国选矿工艺中规定用物料的95％能够通过的方筛孔宽度表示该物料的最大块直径。因此，在负累积粒度分析曲线上，与纵坐标95％相对应的筛孔尺寸即最大块的直径。

(3)判别物料的粒度特性。当物料中粗粒级占多数时正累积粒度分析曲线呈凸形(固2-2-1所示的曲线A)；当物料中的细粒级占多数时，正累积粒度分析曲线呈凹形(曲线C)；如果粒度分布是粗和细的数量大致相同，则粒度分析曲线呈直线(曲线』)或接近于直线。

用简单坐标法绘制的累积粒度分析曲线虽然广泛应用，但也有缺点。如果粒度范围很宽时，由于细粒级在横坐标上的间距特别短，点很密集，曲线难以绘制和使用。因此，必须把曲线绘在很大的图纸上，制作和使用都很不方便。如果用对数坐标来表示颗粒级别的尺寸，细级别的横坐标的间距增长，可以避免细粒级备点过分密集的缺点。

3. 半对数坐标法

半对数坐标法是横坐标(粒级尺寸)用对数表示，纵坐标用算术坐标表示的累积粒度分析曲线的方法，曲线称半对数累积粒度分析曲线。

如果筛分分析所用的套筛的筛比相同，绘制个对数粒度分析曲线非常简单。因为在横坐标上相邻两个筛子的筛孔之间的距离都是一样的。例如筛比为√2的泰勒标准筛，各筛孔尺寸的对数差值恒等于lg√2，即每个筛子的孔宽都成为等分的间距。

图2-2-3是根据表2-2-2的资料绘制的半对数累积粒度分析曲线。在绘制这种曲线时，值得注意的是：当d→0时，lgd=lg0=—∞，故曲线不能画到粒度为0之处。

4. 全对数坐标法

此法的横坐标和纵坐标都用对数表示。如图2-2-4就是表2-2-2的资料作出的全对数累积粒度分析曲线。

通常用碎矿和磨矿产物的筛分分析数据在全对数坐标纸上作图，它的负累积产率与粒度的关系，常常近似于直线。从图2-2-4中所示的倩况可以求出这根曲线的斜率和截距。令这根直线的方程式为

在直线上取相距较远的两点(xl，y1；x2，y2)，斜率即为

将k值代入方程式(2-2-7)，然后用上面选定的一个点，例如点(x2，y2)，求截距A为

使用全对数坐标绘制筛分分析曲线的目的，就在于找寻可能存在的如方程式(2-2-7)的规律。